在矽光子開發過程中，找到任何斷光或光損的問題與癥結，協助AI伺服器傳輸加快由銅轉光的進程，其中標配為雷射自動掃描平台及光損量測；選配則可進階至光頻域反射量測、光功率量測、光偏振量測、多光通道量測及矽光高頻量測，並提供客製化選配客製模組和客製對接光纖FAU
1.自動光纖對位平台
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6軸奈米定位平台
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FAU (Fiber Array Unit) 對位
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主動耦光（Active Alignment）
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顯微鏡 + Vision
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典型精度：±0.5 μm
2. 光損量測 (ion Loss)
光路：Laser Source -> Fiber -> Chip / Waveguide -> Photodetector
測試：
- ion Loss
- Coupling Loss
- Waveguide Loss
3. OFDR 光頻域反射量測
- scattering
- 微裂
- 解析度：10 µm 級
4. 偏振量測 (Polarization)
測試：
- TE / TM mode
- Polarization dependent loss (PDL)
5. 高頻量測
- E/O bandwidth
- PAM4 modulation
- Eye diagram
設備：
- BERT
- VNA
- High-speed oscilloscope
