產品介紹

  MIT設備涵蓋 測試機櫃，電腦工控機，產品點燈機構，光學測試鏡頭等裝置，通過上位機控制點燈機構裝置對待測產品進行上電，上位機控制光學鏡頭對待測產品進行光學參數採集，透過上位機軟體影像處理技術自動分析所採集的信號，從而檢測出產品的光學亮度參數，並對其圖像顯示功能是否存在異常常瑕疵進行檢測。